| 已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育，现将如图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断。（注：不考虑基因突变和交叉互换）
①若子代中窄叶粗茎：窄叶中粗茎：窄叶细茎：宽叶粗茎：宽叶中粗茎：宽叶细茎＝，则该植株没有发生染色体易位。
②若，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；
③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且d基因连在B基因所在的染色体上，D基因连在b基因所在的染色体上，并且该植株可育，则其自交后代的表现型及比例为：。
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